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高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀簡(jiǎn)介

 更新時(shí)間:2023-10-10 點(diǎn)擊量:465

主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)

應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GB/T 5654-2007液體絕緣材料 相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量
GB/T 21216-2007絕緣液體 測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法
GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
GB/T 5594.4-1985__電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法
GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)
損耗因數(shù)的推薦方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法
方法概述:
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制,測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感,并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下,測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
備注說明:
三種不同型號(hào)的儀器,主要區(qū)別是頻率不同,根據(jù)自己測(cè)試頻率,選擇合適的型號(hào)
電規(guī)格
固體:材料測(cè)量直徑Φ38mm 可選;厚度可調(diào) ≥ 15mm  
液體:測(cè)量片直徑Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm(選配)
粉體:測(cè)量片直徑Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm(選配)
試樣要求:固體樣品厚度要求:0.5-15MM
產(chǎn)品配置:
1、測(cè)試主機(jī):一臺(tái)
2、測(cè)試電感:9個(gè)
3、測(cè)試夾具:1套(標(biāo)配固體測(cè)試夾具一套)