盡管本標(biāo)準(zhǔn)中描述的幾種起痕與蝕損試驗(yàn)方法在文獻(xiàn)中可能經(jīng)常被稱為“老化試驗(yàn)”，但指出它們 在一定意義上不是加速老化試驗(yàn)很重要。因?yàn)檫@些試驗(yàn)既不能模擬確切的降低實(shí)際使用壽命的條件， 也不能通過(guò)短時(shí)間的加速給出一個(gè)壽命的等伉試驗(yàn)…而所使用的持續(xù)的、循環(huán)的或組合的應(yīng)力，是要試 圖努力發(fā)現(xiàn)可能危及絕緣子運(yùn)行性能的潛在薄弱點(diǎn)。

這些相關(guān)的試驗(yàn)（9. 3. 3,附錄A,附錄B）*被描為篩選試驗(yàn)，可以用來(lái)剔除不適用的材料或者 設(shè)計(jì)。

聚合物絕緣子的老化過(guò)程一般不會(huì)同時(shí)造成容易測(cè)量的引起老化的逐漸變化的特征。絕緣子從 “性能良好”到“使用壽命結(jié)束”的璽化，經(jīng)常是迅速而沒(méi)有事先預(yù)兆的，并有可能被類似前面提及的鹽霧 試驗(yàn)中所得到蝕損深度，或強(qiáng)紫外線所造成的表面開裂觀察到。這種變化的時(shí)間和速度依賴于很多參 數(shù)，包括絕緣了的材料、設(shè)計(jì)以及絕緣于的運(yùn)行環(huán)境。因此，對(duì)于用這樣的老化試驗(yàn)預(yù)測(cè)絕緣于的真實(shí) 壽命，僅當(dāng)?shù)玫皆谙嗤蛳嗨频沫h(huán)境下相同或相似的絕緣子的關(guān)于損傷或降解的數(shù)據(jù)冇效時(shí)，才是有訂 能的。

因此,這些試驗(yàn)的應(yīng)用是為了給出設(shè)計(jì)和材料的特性與比較苛刻而拒嚴(yán)酷的環(huán)境中呈現(xiàn)的應(yīng) 力之間關(guān)系的-般信息。

重要的是，要注意到通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的“試驗(yàn)結(jié)束”時(shí)的破壞水平在大部分運(yùn)行環(huán)境下是不能接受的。例 如，在相關(guān)試驗(yàn)（9. 3.-3,附錄A,附錄B）中"［到3 mm的蝕損深度在試驗(yàn)中是可以接受的，但絕緣子 運(yùn)行中這不能被接受.，在絕緣*的設(shè)計(jì)壽命中也不希望發(fā)生。

進(jìn)一步的信息，見C1GRE技術(shù)手冊(cè)142冊(cè)：“聚合物絕緣子的i'|然和人工老化以及污穢試驗(yàn)” （）7,1999。